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設計師品牌 neum 全新系列「A Study of Ordered Traces」正式發佈
由主理人Ann Chen創立的新銳設計師品牌neum正式發表全新系列「A Study of Ordered Traces」，本季靈感源自 Lee Miller 的攝影作品，在她鏡頭下的戰爭，不僅記錄了衝突，也留下了秩序、殘留與重生的影子。
neum 試著從那些排列整齊卻載滿重量的線條與空間中，找到一種失序中重新編排現實的方式。比如條紋與圍籬、工裝與口袋，本是象徵規訓、勞動與區隔的視覺語言，在這一系列中被拆解、重構、重新縫合，將制服的線條化為身體的自由延展，將圍籬的格線轉譯為保護與內聚。
Ann 認為當這些符號被剪裁、重組，穿在身上，它們可以是自由的縫隙。服裝也不再只是穿在身上的結構，更是穿越時間的敘事。
「A Study of Ordered Traces」系列現已上架官網及品牌工作室展出，歡迎線上選購或預約試穿體驗。此外 neum 也將於 8 月 16 日、17 日舉辦新品展售會，開放試穿與購買，有興趣的讀者不妨多加留意。
neum 'A Study of Ordered Traces' 展售會日期：8/16、17時間：12:00–19:00地點：台北市松山區復興北路 233 號
